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PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm

PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm
PI PIFOC系列的壓電撓性平臺和物鏡掃描儀在定位和掃描任務中提供高動態(tài)性。PI用于平行和垂直于光軸的XY試樣定位以及物鏡 Z聚焦的良好適配解決方案可作為標準產(chǎn)品提供。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-10
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產(chǎn)品詳情

PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm

      PI PIFOC系列的壓電撓性平臺和物鏡掃描儀在定位和掃描任務中提供高動態(tài)性。PI用于平行和垂直于光軸的XY試樣定位以及物鏡 Z聚焦的良好適配解決方案可作為標準產(chǎn)品提供。與控制器和所有必需的連接電纜和軟件一起的系統(tǒng)中也可以方便地使用階段。與所有壓電系統(tǒng)一樣,顯微鏡載物臺和掃描儀在交付時都經(jīng)過測量日志預先校準。

ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm

納米分辨率和快速步進穩(wěn)定

-帶有數(shù)字控制器、軟件和M32 QuickLock螺紋適配器的完整系統(tǒng)

-USB、RS-232

-傳感器分辨率0.5 nm

-Z堆棧的高動態(tài)步進和穩(wěn)定

-更多螺紋適配器作為可選附件

-與µManager、MetaMorph和MATLAB兼容

-運行中的參數(shù)變化

使用增量式線性編碼器進行高精度位置測量

非接觸式光學編碼器以高的精度直接在平臺上測量位置。非線性、機械間隙或彈性變形對測量沒有影響。

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PiezoWalk ®行走驅(qū)動器的納米精度和高進給力

多個壓電執(zhí)行器在PiezoWalk®行走驅(qū)動器中執(zhí)行行走運動,導致跑步者向前進給。致動器的控制允許以遠低于一納米的分辨率進行小的步進和前饋運動。

用于快速啟動生產(chǎn)操作的廣泛軟件

得益于MATLAB 和 NI LabVIEW以及所有常見操作系統(tǒng)(Windows、Linux 和 macOS)的支持,集成幾乎可以在所有環(huán)境中成功 - 快速高效。復雜的編程示例和PIMikroMove等軟件工具大大縮短了生產(chǎn)操作的時間。

應用領(lǐng)域

-雙光子顯微鏡

-共聚焦顯微鏡

-3D成像

-激光技術(shù)

-干涉測量法

-生物技術(shù)

-顯微操作

-長行程自動對焦


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